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KP公司常压扫描开尔文探针
更新时间:2024-04-09 15:28:03 字号:T|T
扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函数或半导体材料表面电势,表面功函数是由材料表面外层的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术,KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV分辨率的扫描测试系统。


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主要特点:
● 功函分辨率:优于 3meV
● 扫描面积:50mm to 300mm
● 扫描分辨率:317.5nm
● 自动高度调节

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应用领域:
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀

升级附件:
● 常压表面光子发射谱
● 表面光电压谱
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱

● 250℃加热台