近年来，作为复杂的过程链中的一环，光学测量系统已逐渐成为工业生产过程中的重要工具。新拓三维XTDIC-CONST全场应变测量系统采用非接触测量方式，具有多种工作模式，满足各种测试速率、分辨率和测量范围的要求，且不受材料影响，适用于各种材料的静态或动态实验。

-  扩展接口丰富：具备试验机接口、杯突实验机接口等多种类型接口。



· 材料研究
    新拓三维XTDIC-CONST全场应变测量系统能够在各种各样的测试环境下，分析材料的力学性能和行为表现，并且可以无缝地集成到现有的测量环境、试验台和试验机，利用非接触测量头，可以在机械加载和热加载的情况下，测量软质和硬质材料的全场三维应变和变形。它可以替代传统的引伸计和应变片，实现实时的三维表面变形分析。

• 》全场应变分布

• 》应力-应变曲线

• 》杨氏模量

• 》泊松比

• 》N值&R值

• 》拉伸试验

• 》剪切试验

• 》三点弯曲/四点弯曲
  
  
  
  ·零件测试分析
  XTDIC-CONST是分析零件力学性能的有力工具，它不受零件和材料的几何形貌限制，即使零件在工作状态，光学测量也不受影响。新拓三维XTDIC-CONST通过评估扭曲、弯曲、位移、速度和加速度等因素，实现分析零件在使用过程中的安全风险、零件寿命、蠕变、老化及外观变化等，以便给设计者提供优化产品设计的试验验证和有效反馈。 在静态和动态测试中，又或者是在高速测试状态下，新拓三维XTDIC-CONST都能通过光学测量获得完整的测试结果，并可以做出完整的数据分析报告

  》强度分析
  》振动分析
  》耐久度分析
  》碰撞试验